Authors: Sleiman, A Di Carlo, A Tocca, L Lugli, P Zandler, G Meneghesso, G Zanoni, E Canali, C Cetronio, A Lanzieri, M Peroni, M

Citation: A. Sleiman et al., Experimental and Monte Carlo analysis of near-breakdown phenomena in GaAs-based heterostructure FETs, SEMIC SCI T, 16(5), 2001, pp. 315-319