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Authors: Candelori, A Paccagnella, A Nardi, F Bacchetta, N Bisello, D
Citation: A. Candelori et al., SPICE evaluation of the S/N ratio for Si microstrip detectors, IEEE NUCL S, 46(5), 1999, pp. 1261-1273

Authors: D'Alessandro, R Albergo, S Angarano, M Azzi, P Babucci, E Bacchetta, N Bagliesi, G Bartalini, P Basti, A Biggeri, U Bilei, GM Bisello, D Boemi, D Bosi, F Borrello, L Bozzi, C Breuker, H Bruzzi, M Candelori, A Caner, A Castaldi, R Castro, A Catacchini, E Checcucci, B Ciampolini, P Civinini, C Connotte, J Creanza, D Da Rold, M de Palma, M Dell'Orso, R Della Marina, R Eklund, C Elliott-Peisert, A Feld, L Fiore, L Focardi, E French, M Freudenreich, K Giassi, A Giraldo, A Glessing, B Gu, WH Hall, G Hammerstrom, R Hrubec, J Huhtinen, M Karimaki, V Krammer, M Lariccia, P Lenzi, M Loreti, M Luebelsmeyer, K Lustermann, W Maggi, G Mannelli, M Mantovani, G Marchioro, A Martignon, G McEvoy, B Meschini, M Messineo, A My, S Paccagnella, A Palla, F Pandoulas, D Parrini, G Passeri, D Pieri, M Piperov, S Potenza, R Raffaelli, F Raso, G Raymond, M Santocchia, A Schmitt, B Selvaggi, G Servoli, L Sguazzoni, G Siedling, R Silvestris, L Skog, K Starodumov, A Stavitsky, I Stefanini, G Tempesta, P Tonelli, G Tricomi, A Tuuva, T Vannini, C Verdini, PG Viertel, G Xie, Z Wang, Y Watts, S Wittmer, B
Citation: R. D'Alessandro et al., The CMS silicon tracker, NUCL INST A, 419(2-3), 1998, pp. 538-543

Authors: Candelori, A Paccagnella, A Cammarata, M Ghidini, G Fuochi, PG
Citation: A. Candelori et al., Fowler-Nordheim characteristics of electron irradiated MOS capacitors, IEEE NUCL S, 45(6), 1998, pp. 2383-2390
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